快速溫度變化試驗(yàn)箱主要用于研究各種工業(yè)產(chǎn)品的熱力學(xué)性能引起的故障。當(dāng)產(chǎn)品各部件材料匹配不良或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)會(huì)因機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷惡化而導(dǎo)致產(chǎn)品失效。試驗(yàn)箱的溫度變化率一般在5-20℃/分鐘之間，可真實(shí)快速再現(xiàn)樣品的應(yīng)用環(huán)境條件。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、元器件單元和電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估，是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問題的有效方法。

　　環(huán)境應(yīng)力篩選是針對(duì)客戶要求的快速溫度變化測(cè)試而專門設(shè)計(jì)的。是篩選可能導(dǎo)致樣品過早失效的氣候、熱或機(jī)械應(yīng)力的方法測(cè)試，以及可能導(dǎo)致過早失效的氣體、熱或機(jī)械應(yīng)力的篩選方法，電子模塊設(shè)計(jì)可發(fā)現(xiàn)材料或生產(chǎn)中的缺陷。
 

　　快速溫度變化試驗(yàn)箱適用于電氣、電子產(chǎn)品及零部件的耐寒性、??溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，適用于電氣電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。該設(shè)備主要用于電氣、電子產(chǎn)品及其原始器件等材料在高溫、低溫變速環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或用戶要求模擬產(chǎn)品的物理及其他相關(guān)特性，對(duì)產(chǎn)品在低溫、高溫及條件下的物理及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬試驗(yàn)，通過測(cè)試，產(chǎn)品的性能仍能滿足產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定和出廠檢驗(yàn)的預(yù)定要求。

　　快速溫度變化試驗(yàn)箱的溫度調(diào)節(jié)方式：強(qiáng)制通風(fēng)內(nèi)循環(huán)，平衡調(diào)溫方式。當(dāng)目標(biāo)溫度高于室溫時(shí)，制冷系統(tǒng)不工作。中控系統(tǒng)根據(jù)箱內(nèi)采集的溫度信號(hào)，通過放大、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和非線性校正，與非線性校正后的溫度設(shè)定值（目標(biāo)值）進(jìn)行比較。偏差信號(hào)通過PID計(jì)算，輸出調(diào)節(jié)信號(hào)自動(dòng)控制加熱器的輸出功率，使試驗(yàn)箱內(nèi)的加熱和散熱達(dá)到動(dòng)態(tài)平衡，達(dá)到恒溫的目的。溫變?cè)囼?yàn)箱使產(chǎn)品產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變。該繼電器摒棄了傳統(tǒng)的電流差動(dòng)原理，采用了整個(gè)報(bào)警周期內(nèi)電流幅值的智能比較方法，具有記憶特性。